等(deng)压(ya)(ya)力(li)(li)容(rong)器和压(ya)(ya)力(li)(li)容(rong)器构(gou)(gou)件(jian)(jian)的内部(bu)往往存在(zai)不(bu)(bu)易发现(xian)的缺(que)(que)陷，如未(wei)熔合、未(wei)焊(han)透(tou)、夹渣、气孔、裂(lie)纹(wen)等(deng)。为(wei)了了解这些(xie)缺(que)(que)陷的位置、大小(xiao)和性(xing)质，不(bu)(bu)可能对每个锅炉或(huo)压(ya)(ya)力(li)(li)容(rong)器进行破坏(huai)(huai)性(xing)检(jian)查。因此，应采用(yong)无损检(jian)测方法(fa)。即在(zai)不(bu)(bu)破坏(huai)(huai)结构(gou)(gou)的前(qian)提下(xia)，采用(yong)物理(li)方法(fa)检(jian)查和测量工件(jian)(jian)或(huo)结构(gou)(gou)的物理(li)量变化，从(cong)而推断工件(jian)(jian)或(huo)结构(gou)(gou)的内部(bu)组织状况和缺(que)(que)陷。

　　无损探伤设备。

　　产品(pin)(pin)制造(zao)过(guo)程中(zhong)，可(ke)以提(ti)前发现(xian)缺陷，避免产品(pin)(pin)报废，从而(er)节(jie)省工作(zuo)时间和成本，降低产品(pin)(pin)制造(zao)成本。（保(bao)证3）提(ti)高产品(pin)(pin)的可(ke)靠性，保(bao)证产品(pin)(pin)的安全使(shi)用，避免事故的发生。将无损探(tan)伤应(ying)用于产品(pin)(pin)的设计(ji)(ji)、制造(zao)、安装、使(shi)用和维护；通过(guo)一系(xi)列(lie)测(ce)试，确定设计(ji)(ji)、原材料(liao)、制造(zao)工艺和运行(xing)质量，找(zhao)出可(ke)能造(zao)成损坏的因(yin)素，然(ran)后进(jin)行(xing)改进(jin)，从而(er)提(ti)高产品(pin)(pin)的可(ke)靠性常规无损检测(ce)方法有：射线探(tan)伤、超声探(tan)伤、磁(ci)粉探(tan)伤、渗透探(tan)伤、涡流探(tan)伤等。此外，还有泄(xie)漏(lou)检测(ce)、声发射检测(ce)、应(ying)力检测(ce)、目视检查等。

　　射(she)(she)线(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)伤(shang)利(li)用射(she)(she)线(xian)(xian)(xian)具有(you)穿透金属(shu)和(he)其他物质(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)能(neng)力(li)(li)来检(jian)查焊(han)(han)缝质(zhi)量(liang)的(de)(de)(de)(de)(de)方(fang)法称(cheng)为射(she)(she)线(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)伤(shang)。射(she)(she)线(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)伤(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)基(ji)本(ben)原理是投(tou)影(ying)原理。当(dang)射(she)(she)线(xian)(xian)(xian)穿过(guo)焊(han)(han)缝金属(shu)时，当(dang)焊(han)(han)缝金属(shu)存在缺(que)(que)陷（如裂纹、夹渣、气孔、未(wei)焊(han)(han)接等(deng)）。），光线(xian)(xian)(xian)在金属(shu)与缺(que)(que)陷中的(de)(de)(de)(de)(de)衰(shuai)(shuai)变程度不同(tong)，对薄膜的(de)(de)(de)(de)(de)感光度也不一样。金属(shu)中射(she)(she)线(xian)(xian)(xian)衰(shuai)(shuai)减快，缺(que)(que)陷中射(she)(she)线(xian)(xian)(xian)衰(shuai)(shuai)减慢。因此，射(she)(she)线(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)伤(shang)可以判断焊(han)(han)缝中缺(que)(que)陷的(de)(de)(de)(de)(de)大(da)小(xiao)、形状(zhuang)和(he)位(wei)置(zhi)。由于(yu)射(she)(she)线(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)伤(shang)是一种投(tou)影(ying)原理，该(gai)方(fang)法对体积缺(que)(que)陷（如夹渣）敏(min)感。本(ben)文(wen)提出(chu)的(de)(de)(de)(de)(de)方(fang)法符合我国锅(guo)(guo)炉压力(li)(li)容(rong)器信(xin)得过(guo)的(de)(de)(de)(de)(de)要(yao)求。在锅(guo)(guo)炉额定(ding)蒸气压力(li)(li)大(da)于(yu)等(deng)于(yu)0.1MPa、小(xiao)于(yu)3.8MPa时，锅(guo)(guo)炉锅(guo)(guo)筒纵(zong)环焊(han)(han)缝、集(ji)箱纵(zong)缝、封头(tou)拼缝应100%探(tan)(tan)伤(shang)；对于(yu)3.8MPa的(de)(de)(de)(de)(de)锅(guo)(guo)炉，应该(gai)做(zuo)百分(fen)之(zhi)百的(de)(de)(de)(de)(de)超声(sheng)检(jian)查和(he)至少25%的(de)(de)(de)(de)(de)射(she)(she)线(xian)(xian)(xian)检(jian)查。

　　无损探伤设备。

　　超声(sheng)(sheng)(sheng)检测就是利(li)用声(sheng)(sheng)(sheng)波在介质(zhi)中(zhong)(zhong)传播(bo)时，遇到(dao)不同(tong)介质(zhi)界面反射特性而进行无(wu)损检测的(de)(de)(de)一(yi)种方法。气、液、固三体之(zhi)间弹性差，对(dui)超声(sheng)(sheng)(sheng)传播(bo)的(de)(de)(de)影响不同(tong)，异(yi)质(zhi)界面上会出现反射、折射、波形变换。当超声(sheng)(sheng)(sheng)波在焊(han)缝(feng)中(zhong)(zhong)传播(bo)时，如(ru)果(guo)焊(han)缝(feng)有缺(que)(que)陷(xian)，遇到(dao)缺(que)(que)陷(xian)的(de)(de)(de)界面会反射，被(bei)探(tan)(tan)(tan)头(tou)接收，在屏幕上形成波形，从而判断缺(que)(que)陷(xian)的(de)(de)(de)性质(zhi)、位置(zhi)和大小。传统的(de)(de)(de)超声(sheng)(sheng)(sheng)波探(tan)(tan)(tan)伤(shang)不能保存(cun)探(tan)(tan)(tan)伤(shang)结果(guo)的(de)(de)(de)记录，缺(que)(que)陷(xian)的(de)(de)(de)评(ping)价取决于人的(de)(de)(de)因(yin)素太大。因(yin)此，目(mu)前我国低压锅炉基本采用射线探(tan)(tan)(tan)伤(shang)。超声(sheng)(sheng)(sheng)检测对(dui)面型(xing)缺(que)(que)陷(xian)（如(ru)裂纹、未(wei)焊(han)透等）敏感。）。因(yin)此，超声(sheng)(sheng)(sheng)波探(tan)(tan)(tan)伤(shang)在厚板中(zhong)(zhong)比射线探(tan)(tan)(tan)伤(shang)有更多的(de)(de)(de)优点(dian)。一(yi)旦超声(sheng)(sheng)(sheng)波探(tan)(tan)(tan)伤(shang)仪能够记录和保存(cun)结果(guo)，超声(sheng)(sheng)(sheng)波探(tan)(tan)(tan)伤(shang)的(de)(de)(de)应用范(fan)围就会进一(yi)步(bu)扩大。

　　磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)(fen)(fen)探(tan)(tan)伤(shang)(shang)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)(fen)(fen)探(tan)(tan)伤(shang)(shang)是利用(yong)缺(que)陷处(chu)形成的(de)(de)漏(lou)(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)场(chang)来吸(xi)引磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)(fen)(fen)，显示肉眼难(nan)以观察(cha)到的(de)(de)缺(que)陷。磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)(fen)(fen)探(tan)(tan)伤(shang)(shang)首先磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)化被(bei)检查焊(han)(han)缝(feng)(feng)(feng)的(de)(de)外磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)场(chang)。焊(han)(han)缝(feng)(feng)(feng)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)化后(hou)，在焊(han)(han)缝(feng)(feng)(feng)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)均(jun)匀(yun)喷(pen)洒(sa)颗粒细小的(de)(de)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)(fen)(fen)（磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)(fen)(fen)平(ping)均(jun)粒度(du)为5~10μm）。如果被(bei)检查的(de)(de)焊(han)(han)缝(feng)(feng)(feng)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)没有缺(que)陷，磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)化后(hou)可视为导磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)率(lv)(lv)不变的(de)(de)均(jun)匀(yun)体，磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)(fen)(fen)在焊(han)(han)缝(feng)(feng)(feng)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)均(jun)匀(yun)分布。如果焊(han)(han)接表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)存在缺(que)陷（裂纹、气(qi)孔(kong)、非金(jin)(jin)属(shu)夹渣）包含空气(qi)或非金(jin)(jin)属(shu)，其导磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)率(lv)(lv)远远低于焊(han)(han)缝(feng)(feng)(feng)金(jin)(jin)属(shu)。焊(han)(han)缝(feng)(feng)(feng)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)或近表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)因磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)电阻的(de)(de)变化而产(chan)生漏(lou)(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)场(chang)，从而形成小磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)极。磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)(fen)(fen)会被(bei)小磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)极吸(xi)引，缺(que)陷处(chu)会显示出堆积较多的(de)(de)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)(fen)(fen)，形成肉眼可见的(de)(de)缺(que)陷图形。由于磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)导率(lv)(lv)低，焊(han)(han)缝(feng)(feng)(feng)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)或近表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)的(de)(de)缺(que)陷产(chan)生漏(lou)(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)场(chang)。结果表(biao)(biao)(biao)明，当漏(lou)(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)场(chang)达(da)到能够吸(xi)附磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)(fen)(fen)的(de)(de)程(cheng)度(du)时(shi)，焊(han)(han)缝(feng)(feng)(feng)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)或近表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)会出现缺(que)陷。此外，磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)场(chang)强度(du)大(da)，形成的(de)(de)漏(lou)(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)场(chang)强度(du)越(yue)高，磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)场(chang)探(tan)(tan)伤(shang)(shang)的(de)(de)灵(ling)敏度(du)越(yue)高。

　　磁(ci)粉探伤很容(rong)易发现表面或近(jin)表面的(de)(de)缺(que)陷(xian)(xian)，特别是裂纹，但缺(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)显示程度与缺(que)陷(xian)(xian)与磁(ci)线的(de)(de)相对位置有关。当缺(que)陷(xian)(xian)垂直(zhi)于磁(ci)线时(shi)，缺(que)陷(xian)(xian)不(bu)容(rong)易出现。

　　在锅炉压力(li)容器的(de)(de)制造(zao)、安(an)装、检查(cha)中(zhong)，磁粉探(tan)伤(shang)被广泛(fan)地应用，特别(bie)是(shi)在对球罐(guan)打(da)开罐(guan)体检查(cha)中(zhong)必不可(ke)少的(de)(de)检测方(fang)法(fa)(fa)(fa)。白色渗(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)法(fa)(fa)(fa)是(shi)检查(cha)焊(han)(han)缝表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)或近表(biao)(biao)(biao)缺(que)陷(xian)的(de)(de)一种方(fang)法(fa)(fa)(fa)。该(gai)方(fang)法(fa)(fa)(fa)不受材(cai)料(liao)磁性的(de)(de)限制，可(ke)用于(yu)各种金(jin)属(shu)和(he)非(fei)金(jin)属(shu)材(cai)料(liao)、磁性和(he)非(fei)磁性材(cai)料(liao)。渗(shen)(shen)液(ye)(ye)法(fa)(fa)(fa)是(shi)以物理(li)原理(li)为基础，根据物理(li)化学中(zhong)液(ye)(ye)体对固体的(de)(de)润(run)湿(shi)能力(li)。在进行液(ye)(ye)体渗(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)探(tan)伤(shang)时，首先将具有高(gao)渗(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)能力(li)的(de)(de)渗(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)液(ye)(ye)浸泡(pao)在被探(tan)伤(shang)的(de)(de)焊(han)(han)缝表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)。由于(yu)液(ye)(ye)体的(de)(de)润(run)湿(shi)能力(li)和(he)毛细现象(xiang)，渗(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)液(ye)(ye)渗(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)到焊(han)(han)缝表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)缺(que)陷(xian)中(zhong)，然(ran)后清洁焊(han)(han)缝外表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)渗(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)液(ye)(ye)，然(ran)后涂上亲和(he)力(li)强、吸(xi)附力(li)强的(de)(de)彩色成像(xiang)剂，吸(xi)出渗(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)到焊(han)(han)缝表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)裂(lie)纹中(zhong)的(de)(de)渗(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)液(ye)(ye)，在白色涂层(ceng)上显(xian)示(shi)反映缺(que)陷(xian)形状(zhuang)和(he)位置的(de)(de)清晰图案。渗(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)探(tan)伤(shang)可(ke)分为不同的(de)(de)颜色显(xian)示(shi)方(fang)法(fa)(fa)(fa)和(he)荧光显(xian)示(shi)方(fang)法(fa)(fa)(fa)。

　　着(zhe)色(se)探(tan)伤(shang)法(fa)是(shi)利用染料的(de)颜(yan)色(se)来显(xian)示缺陷(xian)，溶解在渗透(tou)液中(zhong)的(de)染色(se)物质应该(gai)有明显(xian)的(de)颜(yan)色(se)。荧光(guang)显(xian)示探(tan)伤(shang)法(fa)利用荧光(guang)物质的(de)发光(guang)来显(xian)示缺陷(xian)。缺陷(xian)检测时，吸附在缺陷(xian)内的(de)荧光(guang)物质受(shou)到紫外线的(de)照(zhao)射，由于对光(guang)能的(de)吸收而达到受(shou)激状态(tai)，进入不稳定状态(tai)，必(bi)然会从此(ci)失稳状态(tai)回(hui)到稳定状态(tai)，降低(di)势能，释放光(guang)量子，即荧光(guang)。

　　涡(wo)流(liu)探(tan)伤是利用激磁线圈(quan)在导电工件中(zhong)产生涡(wo)流(liu)，通过检测(ce)线圈(quan)来(lai)测(ce)量被检物涡(wo)流(liu)的变化。

　　涡(wo)流探(tan)伤的(de)检(jian)测(ce)(ce)线(xian)圈根据形状(zhuang)可分为(wei)三种(zhong)类型：穿(chuan)过线(xian)圈、探(tan)头线(xian)圈和插入(ru)线(xian)圈。穿(chuan)过线(xian)圈用(yong)于检(jian)测(ce)(ce)线(xian)、棒和管道(dao)，其内径(jing)仅适用(yong)于圆(yuan)棒和管道(dao)。探(tan)头线(xian)圈放在(zai)工件表面进(jin)行局部检(jian)测(ce)(ce)。插入(ru)式线(xian)圈又(you)称(cheng)内部探(tan)头，放在(zai)管道(dao)和孔内进(jin)行内壁检(jian)测(ce)(ce)。

　　一种无损检测压(ya)力容器(qi)配件(jian)。

　　旋涡检测适用于钢铁、有色、石墨(mo)等(deng)导电(dian)材(cai)料的工(gong)件，不(bu)能用于玻璃、合成树脂等(deng)非导电(dian)性材(cai)料。

　　可(ke)以(yi)使(shi)用(yong)（1），因为探伤的(de)结(jie)果可(ke)以(yi)直接(jie)(jie)输出，所以(yi)可(ke)以(yi)使(shi)用(yong)自动检(jian)测。（2）接(jie)(jie)触方法（头不能直接(jie)(jie)接(jie)(jie)触被(bei)检(jian)测工件，可(ke)以(yi)很(hen)快接(jie)(jie)触到(dao)，或者面(mian)）（3）适用(yong)于表面(mian)检(jian)测。

　　由于外(wai)力作用(yong)下，由于产(chan)生(sheng)变形或裂纹，声发射探(tan)测采用(yong)探(tan)头探(tan)测来自固体的声波，从而推(tui)断(duan)出缺陷的位置和大小。

　　超声(sheng)(sheng)(sheng)波探伤方法(fa)是(shi)(shi)(shi)(shi)探头发(fa)(fa)(fa)出的(de)(de)超声(sheng)(sheng)(sheng)信号在遇(yu)到缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)后(hou)被反(fan)射(she)(she)和(he)接(jie)收。由于缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)在检(jian)(jian)测(ce)过程(cheng)中的(de)(de)作用只是(shi)(shi)(shi)(shi)对超声(sheng)(sheng)(sheng)波信号进行被动反(fan)射(she)(she)，声(sheng)(sheng)(sheng)发(fa)(fa)(fa)射(she)(she)检(jian)(jian)测(ce)是(shi)(shi)(shi)(shi)使被检(jian)(jian)测(ce)对象（缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)）积极参与检(jian)(jian)测(ce)过程(cheng)，由于缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)的(de)(de)发(fa)(fa)(fa)展(zhan)，声(sheng)(sheng)(sheng)发(fa)(fa)(fa)射(she)(she)检(jian)(jian)测(ce)是(shi)(shi)(shi)(shi)一种动态无损检(jian)(jian)测(ce)方法(fa)。根(gen)据声(sheng)(sheng)(sheng)波的(de)(de)特点(dian)和(he)声(sheng)(sheng)(sheng)发(fa)(fa)(fa)射(she)(she)的(de)(de)外部条件，可以检(jian)(jian)查声(sheng)(sheng)(sheng)源的(de)(de)位置（缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)位置）和(he)微观结构特征。该(gai)检(jian)(jian)测(ce)方法(fa)不仅可以了解缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)的(de)(de)当前状态，还可以了解缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)的(de)(de)形成过程(cheng)和(he)在实际使用条件下发(fa)(fa)(fa)展(zhan)和(he)增加的(de)(de)趋势。

　　根据检(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)探(tan)头的(de)数量，声发(fa)(fa)射(she)检(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)可分为单(dan)(dan)通(tong)道检(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)、双(shuang)通(tong)道检(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)和(he)多(duo)通(tong)道检(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)。单(dan)(dan)通(tong)道检(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)只能检(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)被检(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)物体是否有缺(que)陷，缺(que)陷位置无法确定(ding)，而双(shuang)通(tong)道检(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)只能进(jin)行线性定(ding)位，一般用(yong)于检(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)已知(zhi)条件下的(de)焊缝。多(duo)通(tong)道检(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)一般为4通(tong)道、8通(tong)道、16通(tong)道和(he)32通(tong)道，主要用(yong)于大型构件的(de)声发(fa)(fa)射(she)检(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)，既能检(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)声发(fa)(fa)射(she)源(yuan)的(de)存在，又能定(ding)位声发(fa)(fa)射(she)源(yuan)。

免责声明：本网站（www.qlsteels.com）刊载的“厚壁钢管等压力容器和压力构件的内部组成和缺陷修复”等均源于网络，版权归原作者所有，且仅代表原作者观点，本文所载信息仅供参考。转载仅为学习与交流之目的，如无意中侵犯您的合法权益，请及时联系删除。本网站刊登此篇文章并不意味着本站赞同其观点或证实其内容的真实性，我们不对其科学性、严肃性等作任何形式的保证。如果侵犯了您的版权，请尽快联系我们予以撤销，谢谢合作！
请查(cha)看相关产品(pin) ,,,,